導電性の汚染物質

現在の IT 機器に使用されている半導体と精密な電子技術は、非常に高密度の電子回路の製造を可能にしてきました。 新しいテクノロジーは、より小さな物理スペースに大きな容量を可能にする一方、汚染、特に導電性の微小な汚染物質の影響を受けやすくなっています。 1990 年の早い時期以来、データ・センター環境が導電性の汚染源を含んでいる可能性があることが分かっています。 汚染物質としては、炭素繊維、建造物から出るアルミニュームや銅、鉄などの金属くず、上げ床構造で使用される亜鉛電気メッキを施した物質からの亜鉛ウィスカーなどがあります。

この種の汚染物質は非常に小さくて、ときには拡大鏡を使用しないと簡単には見えないこともありますが、機器の可用性と信頼性に対して壊滅的な影響を及ぼすおそれがあります。 導電性の汚染物質によるエラー、コンポーネントの損傷、および機器の故障は、診断が難しい場合もあります。 障害は、当初は落雷や電源品質の低下といった一般的な要因に帰されたり、単なる部品の欠陥と見なされたりします。

亜鉛ウィスカー

上げ床データ・センターで最も一般的な導電性の汚染物質は、亜鉛ウィスカーと呼ばれるものです。 これが最も一般的である理由は、特定のタイプのアクセス・フロア・タイルで裏面に使用されている場合が多いからです。 通常、中心部が木製のフロア・タイルは、下部が平鋼になっています。 この平鋼に、溶融亜鉛メッキ処理または亜鉛電気メッキによって亜鉛がコーティングされている可能性があります。 亜鉛電気メッキ鋼は、表面にヒゲのようなものが生える現象を呈します。 長さ約 1 から 2 mm (0.04 から 0.08 インチ) のこうした小さな粒子が、表面から剥がれ 落ち、冷却用の気流に吸い込まれます。 それらは、最終的には機器内の空気に取り込まれ、回路ボード上に付着し、問題を起こします。 この種の問題が疑われる場合は、IBM® 技 術員にご連絡ください。

以下の図は、亜鉛ウィスカーからの光の反射を示しています。
図 1. 亜鉛ウィスカーからの光の反射
亜鉛ウィスカーからの光の反射

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